- Будова
- інвертована, де об'єктив стоїть під столиком, що несе зразок, і пряма, де об'єктив дивиться на нього згори
- Туба спостереження
- тринокулярна, з нахилом 45 градусів, регулюванням міжзіничної відстані від 48 до 75 мм, корекцією плюс-мінус 5 діоптрій і заявленим поділом 40:60 між окулярами й портом камери
- Окуляри
- широкопольові окуляри плано з високим виносом вихідної зіниці, 10x, з числом поля 18, 20 або 22 мм залежно від моделі
- Об'єктиви
- планахроматичні об'єктиви великої робочої відстані 5x, 10x, 20x, 50x і 100x залежно від моделі, із заявленим набором плано великої робочої відстані при числових апертурах 0,13, 0,25, 0,40 і 0,65
- Револьвер
- револьверний пристрій на п'ять позицій, розташований усередині корпусу
- Фокусування
- коаксіальне грубе й точне регулювання, хід грубого наведення 30 мм за оберт і поділка точного 0,002 мм
- Столик
- тришаровий механічний столик розміром 180 x 150 мм
- Освітлення
- відбите освітлення Келера з вбудованою апертурною діафрагмою, світлодіод 5 Вт повного спектра з плавним регулюванням яскравості та живленням від 100 до 240 В
- Камера
- камера на 5 мегапікселів або 12 мегапікселів у версіях із програмою, на стандартному кріпленні C через внутрішній адаптер 0,5x
- Програма
- аналіз зображень для розміру зерна, оцінки неметалевих включень, глибини зневуглецювання, форми графіту та подібних оцінювань, із розширенням глибини різкості та зшиванням зображень
Більшість приладів у цьому каталозі вимірюють число безпосередньо. Мікроскоп ні: він дає зображення, а число з’являється пізніше, коли хтось вимірює це зображення або оцінює його за стандартом. Через це специфікація тут незвична, бо прилад успішний або ні залежно від того, чи видно ту деталь, яку треба оцінити, і чи можна їй довіряти.
Для металів та інших непрозорих матеріалів обмеження в тому, що крізь зразок не проходить світло. Усе в металургійному мікроскопі випливає з цього одного факту.
Огляд виробу
Ряд охоплює інвертовані та прямі штативи, від початкових конфігурацій до приладів із напівапохроматичною оптикою великої робочої відстані та камерою на 12 мегапікселів. Усі вони працюють у відбитому світлі, з об’єктивами великої робочої відстані та тринокулярною тубою, що несе порт для камери, а версії з програмою включають аналіз зображень для розміру зерна, оцінки неметалевих включень, глибини зневуглецювання, форми графіту та подібних оцінювань.
Найважливіший поділ це будова. Прямий штатив ставить зразок на столик під об’єктивом, і це цілком придатно, коли зразок це запресований блок або шліф. Інвертований штатив ставить об’єктив під столик, а зразок над ним, і саме це дозволяє розглядати виливок, зварний шов або оброблену деталь такими, як вони є.
Як формується й вимірюється зображення
Світло відбивається від поверхні зразка й збирається об’єктивом, який утворює збільшене зображення; окуляр збільшує це зображення ще раз для ока, або камера фіксує його з окремого порту. Добуток двох величин це загальне збільшення, і це найменш корисне число в специфікації, бо збільшення, застосоване понад те, що здатна розрізнити оптика, дає більше зображення, а не докладніше.
Деталь розрізняє числова апертура об’єктива разом із довжиною хвилі світла. Саме тому в ряду наводять робочі відстані поряд зі збільшеннями: об’єктив із високою апертурою має стояти близько до зразка, а на шорсткій або нерівній поверхні саме цей просвіт вирішує, чи можна взагалі ним скористатися. Набори великої робочої відстані існують саме для того, щоб зберегти цей просвіт, не втрачаючи апертури.
Там, де огляд треба зафіксувати або виміряти, камера стає другим оптичним каналом. Вимірювання, взяті із зафіксованого зображення, чинні лише після калібрування зображення за об’єктив-мікрометром на цьому об’єктиві, бо масштаб зображення змінюється зі збільшенням. Процедуру дає програма; вимірюванням її результат робить калібрування.
Як обрати мікроскоп
Починають зі зразка. Якщо його можна розрізати, запресувати й відшліфувати, прямого штатива достатньо, і це звичніший вибір. Якщо ні або якщо він завеликий для столика, інвертоване компонування єдине, яке його втримає, і тоді варто додатково звірити робочу відстань об’єктивів із рельєфом поверхні зразка.
Далі набір об’єктивів беруть від деталі, а не від зразка. Найменша деталь, яку треба оцінити, визначає числову апертуру, а апертура визначає робочу відстань і глибину різкості, які з нею йдуть. Після оптики вибір стосується реєстрації: чи потрібна камера взагалі, з якою роздільною здатністю і чи потрібна програма для оцінювання, а не лише для знімання.
Обмеження вимірювання та критерії вибору
Мікроскоп показує, як виглядає підготовлена поверхня, і багато з того, що він показує, залежить від підготовки, а не від приладу. Подряпини, намазування та рельєф, внесені під час шліфування й полірування, недосвідчений спостерігач читає як особливості матеріалу, і жодна оптична величина не відділить одне від одного.
Бік оцінювання несе подібне застереження. Бібліотека програми охоплює велику кількість стандартів, і в самих матеріалах зазначено, що наведений перелік є ілюстративним, що роки окремих редакцій у джерелі нечіткі й що оцінювати можна лише те, що дає поставлена програма. Тому сторінка описує охоплені родини, а не заявляє можливість за кожним стандартом окремо, а умови ліцензії й оновлення бібліотеки винесено в питання, які треба закрити до того, як прилад підбирають під конкретний стандарт.
Кожне значення нижче взято з вихідної документації. Якщо параметр не зазначений у наявних матеріалах, він позначений як «потрібні дані», а не оцінений приблизно.