Instrumenty laboratoryjne · Mikroskopy laboratoryjne

Mikroskop metalurgiczny

Mikroskop metalurgiczny do badania metali i próbek nieprzezroczystych w świetle odbitym, w wykonaniu odwróconym i stojącym, z portem kamery.

4XC (13 modele) ·

Kluczowe dane techniczne

Konstrukcje
Odwrócona, w której obiektyw znajduje się pod stolikiem z próbką, oraz stojąca, w której obiektyw skierowany jest na próbkę od góry
Głowica obserwacyjna
Trójobiektywowa, nachylona pod kątem 45°, z regulacją międzyźreniczną od 48 do 75 mm, korekcją ±5 dioptrii i deklarowanym podziałem 40:60 między okulary a port kamery
Okulary
Szerokokątne okulary płaskie z wysokim punktem ocznym, 10×, z liczbą pola 18, 20 lub 22 mm w zależności od modelu
Obiektywy
Obiektywy płaskie achromatyczne o dużym dystansie roboczym: 5×, 10×, 20×, 50× i 100× w zależności od modelu; zestaw o dużym dystansie roboczym z deklarowanymi aperturami numerycznymi 0,13; 0,25; 0,40 i 0,65
Rewolwer
Wewnętrznie umieszczony rewolwer pięciopozycyjny
Ostrość
Współosiowa regulacja zgrubna i dokładna, z ruchem zgrubnym deklarowanym na 30 mm na obrót i podziałem dokładnym 0,002 mm
Stolik
Trójwarstwowy stolik mechaniczny o wymiarach 180 × 150 mm
Oświetlenie
Oświetlenie odbiciowe Köhlera z wbudowaną przysłoną polową, dioda LED o pełnym widmie 5 W z płynną regulacją jasności i zasilaniem 100-240 V
Kamera
Kamera 5 megapikseli lub 12 megapikseli w wersjach z oprogramowaniem, montowana na standardowym mocowaniu C przez wewnętrzny adapter 0,5×
Oprogramowanie
Oprogramowanie do analizy obrazu obejmujące wielkość ziarna, klasyfikację wtrąceń, głębokość odwęglania, formę grafitu i podobne oceny, z rozszerzeniem głębi i łączeniem obrazów

Większość przyrządów w tym katalogu mierzy wielkość bezpośrednio. Mikroskop tego nie robi: tworzy obraz, a liczba pojawia się dopiero potem, gdy ktoś obraz zmierzy lub oceni według normy. To czyni specyfikację nietypową, ponieważ przyrząd succeeds or fails na tym, czy szczegół wymagający oceny jest rzeczywiście widoczny i czy można mu zaufać.

Dla metali i innych materiałów nieprzezroczystych ograniczenie polega na tym, że żadne światło nie przechodzi przez próbkę. Wszystko w mikroskopie metalurgicznym wynika z tego jednego faktu.

Przegląd produktu

Gamma obejmuje statywy odwrócone i stojące, od konfiguracji podstawowych po przyrządy z półapochromatyczną optyką o dużym dystansie roboczym i kamerą 12 megapikseli. Wszystkie używają oświetlenia odbitego, obiektywów o dużym dystansie roboczym i głowicy trójobiektywowej z portem kamery, a wersje z oprogramowaniem obejmują analizę obrazu: wielkość ziarna, klasyfikację wtrąceń, głębokość odwęglania, formę grafitu i podobne oceny.

Podział, który ma największe znaczenie, to konstrukcja. Statyw stojący umieszcza próbkę na stoliku pod obiektywem, co jest w pełni satysfakcjonujące, gdy próbka jest preparatem zalakierowanym lub szkiełkiem. Statyw odwrócony umieszcza obiektyw pod stolikiem, a próbkę nad nim, co pozwala na badanie odlewu, przekroju spoiny lub obrobionego elementu w stanie niezmienionym.

Jak powstaje i jest mierzony obraz

Światło odbija się od powierzchni próbki i jest zbierane przez obiektyw, który tworzy powiększony obraz; okular powiększa ten obraz ponownie dla oka, a kamera rejestruje go z osobnego portu. Iloczyn tych dwóch wartości to całkowite powiększenie i jest to najmniej użyteczna liczba w specyfikacji, ponieważ powiększenie wykraczające poza możliwości rozdzielcze optyki daje większy obraz, a nie bardziej szczegółowy.

To, co odwzorowuje szczegóły, to apertura numeryczna obiektywu wraz z długością fali światła. Dlatego gamma podaje dystanse robocze obok powiększeń: obiektyw o wysokiej aperturze musi znajdować się blisko próbki, a na chropowatej lub nierównej powierzchni ten odstęp decyduje o tym, czy obiektyw w ogóle może być użyty. Zestawy o dużym dystansie roboczym istnieją właśnie po to, by utrzymać ten odstęp przy zachowanej aperturze.

Gdy badanie musi być zarejestrowane lub zmierzone, kamera staje się drugim kanałem optycznym. Pomiary z przechwyconego obrazu są ważne dopiero po skalibrowaniu obrazu względem mikrometru stolikowego przy danym obiektywie, ponieważ skala w obrazie zmienia się z powiększeniem. Oprogramowanie zapewnia procedurę; to kalibracja czyni jego wynik pomiarem.

Jak dobrać właściwy mikroskop

Zacznij od próbki. Jeśli można ją ciąć, preparować i polerować, statyw stojący jest wystarczający i jest bardziej konwencjonalnym wyborem. Jeśli nie można, lub jest zbyt duża na stolik, układ odwrócony jest jedynym, który ją pomieści, i warto sprawdzić dystans roboczy obiektywów w odniesieniu do rzeźby powierzchni próbki.

Następnie dobierz zestaw obiektywów od szczegółu, a nie od próbki. Najmniejszy szczegół, który musi być oceniony, decyduje o aperturze numerycznej, a apertura decyduje o dystansie roboczym i głębi ostrości, które z nią wynikają. Po optyce pozostałe wybory dotyczą rejestracji: czy kamera jest w ogóle potrzebna, przy jakiej rozdzielczości i czy oprogramowanie jest wymagane do oceny, czy tylko do rejestracji.

Ograniczenia pomiarowe i uwagi dotyczące doboru

Mikroskop pokazuje, jak wygląda przygotowana powierzchnia, i wiele z tego, co pokazuje, zależy od przygotowania, a nie od przyrządu. Rysy, rozmazania i wypukłości wprowadzone podczas szlifowania i polerowania są odczytywane przez niedoświadczonego obserwatora jako cechy materiału i żadna specyfikacja optyczna nie rozdzieli tych dwóch.

Strona oceny niesie podobne zastrzeżenie. Biblioteka oprogramowania obejmuje dużą liczbę norm, a sam materiał stwierdza, że podana lista jest ilustracyjna, że poszczególne roczniki edycji są niejasne w źródle i że dostarczone oprogramowanie decyduje o tym, co faktycznie można oceniać. Strona opisuje zatem objęte rodziny, a nie stwierdza zdolność norma po normie, a warunki licencji i aktualizacji biblioteki są wymienione jako pytania do rozstrzygnięcia przed specyfikowaniem przyrządu wobec konkretnej normy.

Funkcje

  • Statyw odwrócony w większych modelach, umożliwiający umieszczenie odlewu, spoiny lub obrobionego elementu na stoliku i przesuwanie bez cięcia, co znosi ograniczenie wielkości próbki narzucone przez statyw stojący
  • Obiektywy o dużym dystansie roboczym, utrzymujące odstęp między obiektywem a próbką, dzięki czemu powierzchnię można badać przy powiększeniu, przy którym standardowy obiektyw dotknąłby próbki
  • Stolik o wymiarach 180 × 150 mm z długim przesuwem, umożliwiający skanowanie dużego elementu, a nie tylko preparatu zalakierowanego
  • Głowica trójobiektywowa z dedykowanym portem kamery, pozwalająca na jednoczesną obserwację i rejestrację obrazu, a nie jedno lub drugie
  • Oświetlenie odbiciowe Köhlera z przysłoną polową i diodą LED o pełnym widmie 5 W z widoczną skalą jasności, co zapewnia powtarzalność fotomikrografii między sesjami
  • Oprogramowanie do analizy obrazu obejmujące wielkość ziarna, klasyfikację wtrąceń i głębokość odwęglania, z rozszerzeniem głębi i łączeniem obrazów dla próbek przekraczających głębię ostrości lub pole widzenia
  • System czujników podczerwieni przełączający oświetlenie w stan niskiego poboru po dziesięciu minutach bez aktywności, chroniący próbkę i lampę podczas przerwanej sesji

Dane techniczne

Każda z poniższych wartości pochodzi z dokumentacji źródłowej. Jeśli parametr nie został podany w dostępnych materiałach, oznacza się go jako wymagane informacje, a nie szacuje.

Układ optyczny
Głowica obserwacyjnaTrójobiektywowa pod kątem 45°, międzyźrenicowa 48-75 mm, ±5 dioptrii, podział 40:60Norma
OkularySzerokokątne płaskie z wysokim punktem ocznym, 10×, liczba pola 18 mm w niektórych modelach i 20 lub 22 mm w innychNorma
Zakres obiektywów5×, 10×, 20×, 50× i 100× imersyjny w zależności od modelu; zestaw o dużym dystansie roboczym z deklarowanymi aperturami numerycznymi 0,13; 0,25; 0,40 i 0,65Norma
Klasa korekcji obiektywówOpisana jako płaska achromatyczna w modelach standardowych i półapochromatyczna z opcją ciemnego i jasnego pola w modelu o najwyższej specyfikacjiNorma
Dystans roboczy dla każdego obiektywuDla zestawu o dużym dystansie roboczym deklarowany: 15,5 mm przy 5×, 8,9 mm przy 10×, 8,7 mm przy 20× i 5,2 mm przy 50×Norma
Ośrodek imersyjnyOlej imersyjny przy 100× w modelach wyposażonych w ten obiektywNorma
Apertura numeryczna zestawu standardowegoNie podano dla płaskich obiektywów achromatycznych; podano liczbowo tylko dla zestawu o dużym dystansie roboczymWymagane informacje
Pole widzenia przy każdym powiększeniuNie podano w materialeWymagane informacje
Statyw, stolik i ogniskowanie
Oferowane konstrukcjeStatywy odwrócone i stojące, przy czym układ odwrócony przeznaczony jest do próbek, których nie można ciąćNorma
StolikTrójwarstwowy stolik mechaniczny, 180 × 150 mm, z deklarowanym dużym zakresem przesuwuNorma
OgniskowanieWspółosiowa regulacja zgrubna i dokładna o niskim położeniu, 30 mm na obrót zgrubna i 0,002 mm dokładnaNorma
RewolwerWewnętrznie umieszczony rewolwer pięciopozycyjnyNorma
OświetlenieUkład odbiciowy Köhlera z przysłoną polową, dioda LED o pełnym widmie 5 W, płynnie regulowana z widoczną skalą jasnościNorma
Automatyczne wyłączenieSystem czujników podczerwieni przełączający przyrząd w stan niskiego poboru mocy po dziesięciu minutach bez aktywnościNorma
Adapter i sprzężenieWewnętrzny adapter 0,5× na standardowym mocowaniu C dla kameryNorma
Wymiary całkowiteW materiale podano trzy wartości: 550, 310 i 175 mm, bez określenia, której części przyrządu dotycząWymagane informacje
Masa i powierzchnia zabudowyNie podano w materialeWymagane informacje
Obrazowanie i oprogramowanie
Rozdzielczość kamery5 megapikseli w standardowych wersjach z oprogramowaniem i 12 megapikseli w wersjach o wyższej specyfikacjiNorma
Rejestracja obrazuPojedynczy i seryjny przechwyt, z obrazami zapisywanymi na kartę pamięciNorma
Kalibracja obrazuProcedura kalibracji skalująca wszystkie obiektywy jednocześnie, względem mikrometru stolikowego dostarczanego z systememNorma
Narzędzia pomiaroweOdległość, kąt, prostokąt, elipsa, wielokąt, rozstaw linii równoległych, łuk z trzech punktów i okrąg z trzech punktów, z adnotacjamiNorma
Zakres i dokładność pomiaruNie podano w materiale; obie wynikają z obiektywu i kalibracji, a nie z oprogramowaniaWymagane informacje
RaportowanieEksport pomiarów do arkusza kalkulacyjnego i raportów do popularnych formatów dokumentówNorma
Rozszerzenie głębi i łączenieZawarte w oprogramowaniu, do rozszerzania głębi ostrości i łączenia kilku pól w jeden obrazNorma
Biblioteka normBiblioteka norm oceny organizacyjnych i krajowych, opisana w materiale z zastrzeżeniem, że podane numery norm są przykładami, a poszczególne roczniki edycji niejasne w źródleWymagane informacje
Zasilanie i środowisko
Zasilanie100-240 V, 50 lub 60 Hz, przez moduł oświetleniaNorma
Środowisko pracyNie podano w materialeWymagane informacje
WyświetlaczNie dostarczany; materiał podaje, że monitor pokazany jest wyłącznie w celach ilustracyjnychNorma
Licencja oprogramowaniaOpisana jako oryginalna licencjonowana kopia dostarczana z przyrządem, bez dokumentu licencji w materialeWymagane informacje

Dostępne modele

Tabela wyboru
Model Konfiguracja Ważne zakresy Dostępność
4XC / 4XC-W Statyw odwrócony z głowicą trójobiektywową, szerokokątnymi okularami płaskimi i zestawem obiektywów płaskich achromatycznych o dużym dystansie, w tym 100× imersyjnym Obiektywy 10×, 20×, 40× i 100× imersyjny; wersja W dostarczana z kamerą 5 megapikseli i oprogramowaniem analitycznym Podstawowy model odwrócony i jedyny w gamie z obiektywem imersyjnym
FCM2000 Statyw odwrócony z dużym stolikiem, okularami płaskimi i zestawem obiektywów płaskich o dużym dystansie roboczym Obiektywy 5×, 10×, 20× i 50×; wersja W dodaje kamerę 5 megapikseli i oprogramowanie analityczne Model odwrócony ogólnego przeznaczenia, gdy próbka jest większa niż standardowy preparat
FCM3000 Statyw odwrócony wyposażony w profesjonalny zestaw obiektywów płaskich o dużym dystansie roboczym Obiektywy 5×, 10×, 20× i 50× z deklarowanymi dystansami roboczymi od 15,5 mm do 5,2 mm Wersja wybierana tam, gdzie kluczowy jest odstęp nad próbką
IE300M Statyw odwrócony dostarczany jako korpus, bez kamery i oprogramowania Obiektywy 5×, 10×, 20× i 50× Korpus dla użytkownika, który ma już system obrazowania lub chce go dodać później
FX-41MW Statyw odwrócony z zestawem obiektywów półapochromatycznych o dużym dystansie roboczym z korekcją nieskończoną i kamerą 12 megapikseli Obiektywy 5×, 10× i 20× z opcją ciemnego i jasnego pola; liczba pola okularu 22 mm Najwyższa specyfikacja optyczna w gamie odwróconej
BH200M Statyw stojący z głowicą trójobiektywową do preparatów zalakierowanych i szkiełek Obiektywy 5×, 10×, 20× i 50×; wersja W dodaje kamerę 5 megapikseli i oprogramowanie analityczne Model stojący do próbek, które można przygotować jako preparat zalakierowany lub szkiełko
FL7000 / FL7500 / FL8000W / FL8500 Statywy stojące o rosnącej specyfikacji optycznej, od zestawu płaskiego o dużym dystansie po zestaw płaski z korekcją nieskończoną do ciemnego i jasnego pola Obiektywy od 5× do 60× w zależności od modelu; wyższe modele dodają kamerę 12 megapikseli Rodzina stojąca, gdzie próbka jest przygotowywana jako preparat zalakierowany lub szkiełko
SZM-RS / SZM-W Warianty mikroskopu stereoskopowego, jeden dostarczany z oprogramowaniem do pomiaru penetracji spoinu, drugi z ogólnym oprogramowaniem do pomiaru obrazu Obiektyw zoom 0,7×-4,5× przy dystansie roboczym 100 mm; szerokokątne okulary z liczbą pola 20 mm Ujęte zgodnie z materiałem, ponieważ są to przyrządy do przygotowania i pomiaru, a nie statywy metalurgiczne w świetle odbitym

Dostosowanie

  • Konstrukcja, odwrócona lub stojąca, wynikająca z tego, czy próbkę można ciąć i preparować
  • Zestaw obiektywów, w tym stopnie powiększenia, klasa korekcji i dystans roboczy
  • Liczba pola okularu, poszerzająca widoczne pole przy danym powiększeniu
  • Kamera, 5 lub 12 megapikseli, oraz to, czy w ogóle jest montowana
  • Oprogramowanie, ponieważ dostarczana z systemem wersja zapewnia procedury pomiarowe i oceny
  • Wymaganie oświetlenia ciemnego lub jasnego pola

Certyfikacja i zgodność

Dokumenty certyfikacyjne nie zostały jeszcze dostarczone

Certyfikaty publikujemy dopiero wtedy, gdy możemy przedstawić kopię certyfikatu, dlatego ta sekcja jest celowo pusta, a nie wypełniona domniemanymi zatwierdzeniami. Napisz, jakie zatwierdzenia wymaga Twoje zastosowanie, a potwierdzimy, co jest dostępne dla tego przyrządu.

Parametry do potwierdzenia

Poniższe dane są wymagane do pełnej specyfikacji, ale nie podano ich w dostarczonej dokumentacji. Są wymienione, a nie szacowane:

  • Apertura numeryczna i pole widzenia standardowych płaskich zestawów obiektywów achromatycznych, ponieważ tylko zestaw o dużym dystansie roboczym jest podany liczbowo
  • Powiększenie i pole widzenia dla każdej kombinacji obiektywu i okularu
  • Która z trzech podanych w materiale wymiarów odpowiada której części przyrządu
  • Masa przyrządu i jego powierzchnia zabudowy
  • Środowisko pracy, w tym zakres temperatury otoczenia i wilgotności
  • Czy przyrząd może być dostarczony z interfejsem i dokumentacją w języku angielskim
  • Warunki licencji oprogramowania analitycznego i możliwość aktualizacji biblioteki norm po dostawie
  • Roczniki edycji norm oceny w bibliotece, które materiał określa jako niejasne w źródle i podane jedynie jako przykłady
  • Dokładność narzędzi pomiarowych po kalibracji względem mikrometru stolikowego
  • Czy oświetlenie ciemnego pola jest dostępne w modelach, które go nie wymieniają
  • Mikrometr stolikowy i świadectwo kalibracji dostarczane z każdym poziomem systemu
  • Kraj pochodzenia i obowiązujące oznaczenie zgodności

Najczęściej zadawane pytania

Odwrócony czy stojący?

Wynika to z próbki, a nie z powiększenia. Mikroskop stojący wymaga umieszczenia próbki na stoliku pod obiektywem, co oznacza, że musi być ona na tyle mała i płaska, by przygotować ją jako preparat zalakierowany lub szkiełko. Mikroskop odwrócony umieszcza obiektyw pod stolikiem, a próbkę nad nim, dzięki czemu odlew, przekrój spoiny lub obrobiony element można badać bez przycinania. Gdy próbki nie można poświęcić, układ odwrócony jest jedynym działającym rozwiązaniem.

Jak dobrać powiększenie?

Według najmniejszego szczegółu, który musi być oceniony, a nie według próbki jako całości. Obiektyw musi odwzorować ten szczegół z wystarczającym kontrastem, by mieć pewność, a wszystko ponad to jest pustym powiększeniem, które powiększa obraz bez dodawania informacji. Decydujące wielkości to apertura numeryczna obiektywu i długość fali światła, a dystans roboczy towarzyszący wysokiej aperturze określa, ile miejsca jest nad próbką.

Co daje kamera?

Rejestrację i możliwość pomiaru z obrazu. Kamera jest montowana na dedykowanym porcie głowicy trójobiektywowej, dzięki czemu obserwacja i obrazowanie trwają jednocześnie. Pomiary mają sens dopiero po skalibrowaniu obrazu względem mikrometru stolikowego, a kalibracja jest specyficzna dla każdego obiektywu, ponieważ skala w obrazie zmienia się z powiększeniem. Bez tego kroku oprogramowanie podaje odległości w pikselach, co jest liczbą, a nie pomiarem.

Co trzeba potwierdzić przed wyceną?

Próbkę i to, czy można ją ciąć, co decyduje o konstrukcji; szczegół, który musi być odwzorowany, a zatem zestaw obiektywów i dystans roboczy; czy próbka jest zbliżona do przezroczystej i wymaga techniki kontrastu innej niż jasne pole; czy z obrazu mają być wykonywane pomiary lub zliczenia i według jakiej normy oceny; czy kamera i oprogramowanie analityczne są wymagane i przy jakiej rozdzielczości; oraz ilu użytkowników będzie korzystać z przyrządu, ponieważ łatwość konfiguracji ma większe znaczenie niż jakakolwiek pojedyncza wielkość optyczna przy użytkowaniu współdzielonym.

Podobne produkty

Inne modele z tej samej serii

Przenośny twardomierz Leeba w czarnej uszczelnionej obudowie z matrycowym LCD 128 × 64 z odczytem 46,6 HRC nad linią materiału i licznikiem pomiarów, dwunastoklawiszowa klawiatura z kolorowymi klawiszami, żółty spiralny kabel do oddzielnego elementu uderzeniowego stojącego na cylindrycznym wzorcu obok

TH100 (4 modele) · Twardościomierze

Przenośny twardomierz Leeba

Przenośny twardomierz Leeba z przeliczaniem HL na HB, HRC, HV i HS, z elementem uderzeniowym typu D, pomiarem 360° i dziesięcioma wbudowanymi materiałami.

Model
TH100 / TH110 / TH120 / TH140
Skale twardości
HL, HB, HRC, HRB, HRA, HV i HS, przeliczane na przyrządzie
Zakres pomiarowy
170-960 HLD, 17,9-69,5 HRC, 19-683 HB, 80-1042 HV, 30,6-102,6 HS
Element uderzeniowy
Typ D dostarczany standardowo; typy DC, DL, D+15, C, G i E dostępne na zamówienie
Grubościomierz powłok z sondą dzieloną w czarnej obudowie, z kablem wchodzącym od góry, podświetlanym wyświetlaczem odczytującym 49,4 um nad linią pokazującą typ sondy i tryb pomiaru jednopunktowego oraz dwunastoklawiszową klawiaturą poniżej, z osiemnastoma klawiszami pogrupowanymi w kolorowe pary i okrągłym klawiszem pośrodku

TT220 (3 modele) · Mierniki grubości powłok

Grubościomierz powłok o podwójnej zasadzie

Grubościomierz powłok z indukcją magnetyczną i prądami wirowymi, 0-1250 µm na stali i aluminium, z automatyczną identyfikacją sondy i 500 odczytami.

Model
TT220 / TT230 / TT260 oraz sondy dzielone z serii F i N
Zasada pomiaru
Indukcja magnetyczna na podłożach ferromagnetycznych, prądy wirowe na podłożach nieżelaznych, wybierane automatycznie przez założoną sondę
Zakres pomiarowy
0 do 1250 µm ze standardową sondą F1 lub N1; 0 do 400 µm z F400; 0 do 5000 µm z F5; 0 do 10 000 µm z F10; 0 do 2000 µm w zintegrowanym TT220
Rozdzielczość
0,1 µm poniżej 100 µm; 10 µm na sondzie długozakresowej F10; 1 µm powyżej 100 µm w modelu zintegrowanym
Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości w szaro-czarnej obudowie, leżący pod kątem, z żółtym podświetlanym wyświetlaczem pokazującym 1,600 µm przy linii Ra i linii długości próbkowania, z sześcioma klawiszami sterującymi oznaczonymi czerwonym klawiszem START, klawiszami strzałek, klawiszem ESC i klawiszem zasilania

GH880 (2 modele) · Mierniki chropowatości

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Ra i Rz, 26 parametrów, osiem norm i cztery wymienne sondy do otworów, rowków i powierzchni zakrzywionych.

Model
GH880 / TR100
Zasada pomiaru
Przetwornik indukcyjny z diamentową iglicą i butem prowadzącym
Zakres pomiarowy
Ra i Rq od 0,005 do 32 µm; Rz, Ry, Rt, Rp i Rm od 0,02 do 320 µm; zakres wyświetlania ±160 µm
Rozdzielczość
0,001 µm w GH880; 0,01 µm w TR100

Zapytaj o wycenę dla 4XC

Prześlij potrzebną konfigurację, a potwierdzimy dostępność, termin realizacji i warunki. Minimalna ilość zamówienia to 1 szt.

Zapytanie ofertowe

Zapytaj o wycenę - 4XC

Prześlij dane techniczne, a potwierdzimy dostępność, termin realizacji i warunki. Pozycje z magazynu wysyłamy w ciągu 48 godzin; specyfikacje dostosowane zwykle wymagają 2-10 dni. Minimalna ilość zamówienia to 1 szt.

Im więcej informacji podasz, tym mniej uzgodnień potrzeba przed wystawieniem wyceny.
Nie wybrano pliku
Karta katalogowa, rysunek, lista materiałów lub zdjęcie. Jeden plik, do 10 MB (PDF, Office, obraz lub ZIP).

Wysyłając ten formularz, zgadzasz się, że możemy skontaktować się z Tobą w sprawie tego zapytania. Nie sprzedajemy ani nie udostępniamy danych z zapytań. Zobacz: Polityka prywatności.

Towar z magazynu jest wysyłany w ciągu 48 godzin od potwierdzenia zamówienia. Specyfikacje niestandardowe są produkowane na zamówienie i zazwyczaj wysyłane w ciągu 2-10 dni. Czas transportu zależy następnie od metody wysyłki i miejsca docelowego.

Poproś o wycenę WhatsApp