Instrumen laboratorium · Mikroskop laboratorium

Mikroskop metalurgi

Mikroskop metalurgi untuk pemeriksaan cahaya pantul pada logam dan benda opak lain, dalam dudukan terbalik dan tegak dengan port kamera.

4XC (13 model) ·

Spesifikasi utama

Struktur
Terbalik, ketika objektif berada di bawah sebuah meja objek yang memegang benda uji, dan tegak, ketika objektif menatap ke bawah kepadanya
Kepala pengamatan
Trinokular, miring 45 derajat, dengan penyetelan jarak antar-pupil dari 48 sampai 75 mm, koreksi ±5 dioptri, dan pembagian 40:60 yang dinyatakan antara okuler dan port kamera
Okuler
Okuler plano medan lebar dengan titik mata tinggi, 10x, dengan nomor medan 18, 20, atau 22 mm tergantung modelnya
Objektif
Objektif plan akromatik jarak kerja panjang pada 5x, 10x, 20x, 50x, dan 100x tergantung modelnya, dengan satu set plan jarak kerja panjang yang dinyatakan pada bukaan numerik 0,13, 0,25, 0,40, dan 0,65
Dudukan objektif
Dudukan objektif putar lima posisi dengan posisi internal
Fokus
Penyetelan koaksial kasar dan halus, dengan penjelajahan kasar dinyatakan 30 mm per putaran dan skala halus 0,002 mm
Meja objek
Meja objek mekanik tiga lapisan berukuran 180 x 150 mm
Pencahayaan
Pencahayaan Kohler cahaya pantul dengan diafragma bukaan bawaan, memakai LED spektrum penuh 5 W dengan kecerahan yang dapat diatur terus-menerus dan masukan 100 sampai 240 V
Kamera
Kamera 5 megapiksel atau 12 megapiksel pada versi-versi perangkat lunaknya, dipasang pada dudukan C standar melalui adaptor internal 0,5x
Perangkat lunak
Perangkat lunak analisis gambar yang mencakup ukuran butiran, penilaian inklusi, kedalaman dekarburisasi, bentuk grafit, dan evaluasi serupa, dengan perluasan kedalaman dan penggabungan gambar

Sebagian besar instrumen dalam katalog ini mengukur sebuah angka secara langsung. Sebuah mikroskop tidak: ia menghasilkan sebuah gambar, dan angkanya baru muncul sesudahnya, ketika seseorang mengukur gambar itu atau mengevaluasinya terhadap sebuah standar. Itu membuat spesifikasinya tidak biasa, karena instrumen ini berhasil atau gagal pada apakah detail yang harus dinilai benar-benar terlihat dan dapat dipercaya.

Untuk logam dan bahan opak lainnya, kendalanya adalah tidak ada cahaya yang menembus benda uji. Segala hal tentang sebuah mikroskop metalurgi mengikuti satu fakta itu saja.

Gambaran produk

Seri ini mencakup dudukan terbalik dan tegak, dari konfigurasi kelas masuk sampai instrumen dengan optik semi-apokromatik berjarak kerja panjang dan sebuah kamera 12 megapiksel. Semuanya memakai pencahayaan cahaya pantul, objektif berjarak kerja panjang, dan sebuah kepala trinokular yang membawa port kamera, dan versi-versi perangkat lunaknya menyertakan analisis gambar yang mencakup ukuran butiran, penilaian inklusi, kedalaman dekarburisasi, bentuk grafit, dan evaluasi serupa.

Pembagian yang paling penting adalah strukturnya. Sebuah dudukan tegak menempatkan benda uji di atas sebuah meja objek yang berada di bawah objektif, yang sepenuhnya memadai ketika benda ujinya adalah sebuah blok tertanam atau sebuah preparat. Sebuah dudukan terbalik menempatkan objektif di bawah meja objek dan benda ujinya di atasnya, yang itulah yang memungkinkan sebuah coran, potongan las, atau komponen permesinan diperiksa apa adanya.

Bagaimana gambar dibentuk dan diukur

Cahaya dipantulkan dari permukaan benda uji dan dikumpulkan oleh objektif, yang membentuk sebuah gambar perbesaran; okuler memperbesar gambar itu sekali lagi untuk mata, atau sebuah kamera merekamnya dari sebuah port terpisah. Hasil kali kedua angka itu adalah perbesaran total, dan itulah angka yang paling tidak berguna dalam spesifikasi, karena perbesaran yang melebihi apa yang mampu diuraikan optik menghasilkan gambar yang lebih besar dan bukan gambar yang lebih detail.

Yang menguraikan detail adalah bukaan numerik objektif, bersama panjang gelombang cahayanya. Itulah sebabnya seri ini mencantumkan jarak kerja berdampingan dengan perbesaran: sebuah objektif berbukaan tinggi harus duduk dekat dengan benda uji, dan pada permukaan yang kasar atau tidak rata celah itulah yang menentukan apakah objektifnya dapat dipakai sama sekali. Set-set berjarak kerja panjang ada justru untuk mempertahankan celah itu sambil menjaga bukaannya.

Ketika pemeriksaannya harus direkam atau diukur, kamera menjadi saluran optik kedua. Pengukuran yang diambil dari sebuah gambar yang direkam hanya sah setelah gambar itu dikalibrasi terhadap sebuah mikrometer meja objek pada objektif tersebut, karena skala di dalam gambar berubah mengikuti perbesaran. Perangkat lunak menyediakan rutinitasnya; kalibrasilah yang menjadikan keluarannya sebuah pengukuran.

Cara memilih mikroskop yang tepat

Mulailah dari benda ujinya. Jika ia dapat dipotong, ditanam, dan digosok, sebuah dudukan tegak sudah cukup dan merupakan pilihan yang lebih konvensional. Jika tidak, atau jika ukurannya terlalu besar untuk sebuah meja objek, susunan terbalik adalah satu-satunya yang akan menahannya, dan jarak kerja objektifnya juga layak diperiksa terhadap relief permukaan benda uji itu.

Kemudian ambil set objektifnya dari ciri yang dinilai dan bukan dari benda ujinya. Detail terkecil yang harus dinilai menentukan bukaan numeriknya, dan bukaannya menentukan jarak kerja serta kedalaman medan yang mengikutinya. Setelah optiknya, pilihan yang tersisa adalah tentang perekaman: apakah kamera dibutuhkan sama sekali, pada resolusi berapa, dan apakah perangkat lunaknya dibutuhkan untuk evaluasi atau hanya untuk pengambilan gambar.

Keterbatasan pengukuran dan pertimbangan pemilihan

Sebuah mikroskop memperlihatkan seperti apa rupa sebuah permukaan yang telah disiapkan, dan banyak dari apa yang diperlihatkannya bergantung pada penyiapannya dan bukan pada instrumennya. Goresan, olesan, dan relief yang muncul selama penggerindaan dan pemolesan dibaca sebagai ciri bahan oleh pengamat yang belum berpengalaman, dan tidak ada spesifikasi optik yang dapat memisahkan keduanya.

Sisi evaluasinya membawa peringatan yang serupa. Pustaka perangkat lunaknya mencakup sejumlah besar standar, dan materi itu sendiri menyatakan bahwa daftar yang ditampilkan bersifat ilustratif, bahwa tahun edisi masing-masing tidak jelas di sumbernya, dan bahwa perangkat lunak yang diserahkanlah yang mengatur apa yang benar-benar dapat dievaluasi. Halaman ini karenanya menguraikan keluarga standar yang tercakup dan bukan mengklaim kemampuan standar demi standar, dan ketentuan lisensi serta pembaruan pustaka didaftarkan sebagai pertanyaan yang harus diselesaikan sebelum sebuah instrumen ditentukan terhadap satu standar tertentu.

Fitur

  • Dudukan terbalik pada model-model yang lebih besar, yang memungkinkan sebuah coran, sambungan las, atau komponen permesinan diletakkan dan dijelajahi tanpa dipotong, dan menghapus batas ukuran benda uji yang dikenakan sebuah dudukan tegak
  • Objektif berjarak kerja panjang, yang menjaga celah antara objektif dan benda uji sehingga sebuah permukaan dapat diperiksa pada perbesaran tempat sebuah objektif standar akan menyentuhnya
  • Meja objek berukuran 180 x 150 mm dengan penjelajahan panjang, sehingga sebuah komponen besar dapat dipindai dan bukan hanya sebuah benda uji tertanam
  • Kepala trinokular dengan sebuah port kamera khusus, sehingga sebuah benda uji dapat diamati dan direkam gambarnya pada waktu yang sama dan bukan salah satunya
  • Pencahayaan Kohler cahaya pantul dengan diafragma bukaan dan LED spektrum penuh 5 W berskala kecerahan yang terlihat, yang itulah yang menjadikan sebuah fotomikrograf dapat diulang di antara sesi-sesi
  • Perangkat lunak analisis gambar yang mencakup ukuran butiran, penilaian inklusi, dan kedalaman dekarburisasi, dengan perluasan kedalaman dan penggabungan untuk benda uji yang melebihi kedalaman medan atau medan pandangnya
  • Sebuah sistem pengindraan inframerah yang menurunkan pencahayaan setelah sepuluh menit tanpa aktivitas, yang melindungi benda uji dan lampunya selama sesi yang terputus

Spesifikasi teknis

Semua nilai di bawah diambil dari dokumentasi sumber. Bila suatu parameter tidak tercantum dalam materi yang tersedia, nilainya ditandai sebagai Informasi diperlukan, bukan diperkirakan.

Sistem optik
Kepala pengamatanTrinokular pada 45 derajat, jarak antar-pupil 48 sampai 75 mm, ±5 dioptri, pembagian 40:60Standar
OkulerPlano medan lebar dengan titik mata tinggi, 10x, nomor medan 18 mm pada beberapa model dan 20 atau 22 mm pada yang lainStandar
Rentang objektif5x, 10x, 20x, 50x, dan 100x minyak tergantung modelnya; satu set plan jarak kerja panjang dinyatakan pada bukaan numerik 0,13, 0,25, 0,40, dan 0,65Standar
Kelas koreksi objektifDiuraikan sebagai plan akromatik pada model-model standar dan sebagai semi-apokromatik dengan opsi medan gelap dan medan terang pada model spesifikasi tertinggiStandar
Jarak kerja pada setiap objektifDinyatakan untuk set jarak kerja panjang sebagai 15,5 mm pada 5x, 8,9 mm pada 10x, 8,7 mm pada 20x, dan 5,2 mm pada 50xStandar
Media imersiMinyak imersi pada 100x di model-model yang membawa objektif ituStandar
Bukaan numerik set standarTidak dinyatakan untuk objektif-objektif plan akromatik; hanya set plan jarak kerja panjang yang dicantumkan secara numerikInformasi diperlukan
Medan pandang pada setiap perbesaranTidak tercantum dalam materiInformasi diperlukan
Dudukan, meja objek, dan fokus
Struktur yang ditawarkanDudukan terbalik dan tegak, dengan susunan terbalik yang ditujukan untuk benda uji yang tidak dapat dipotongStandar
Meja objekMeja objek mekanik tiga lapisan, 180 x 150 mm, dengan langkah penjelajahan yang dinyatakan luasStandar
FokusPenyetelan koaksial kasar dan halus yang ditempatkan rendah, 30 mm per putaran untuk kasar dan 0,002 mm untuk halusStandar
Dudukan objektifDudukan objektif putar lima posisi dengan posisi internalStandar
PencahayaanSistem Kohler cahaya pantul dengan sebuah diafragma bukaan, LED spektrum penuh 5 W, yang dapat diatur terus-menerus dan memiliki skala kecerahan yang terlihatStandar
Mati otomatisSebuah sistem pengindraan inframerah yang menempatkan instrumen pada keadaan daya rendah setelah sepuluh menit tanpa aktivitasStandar
Adaptor dan koplingAdaptor internal 0,5x pada dudukan C standar untuk kameraStandar
Dimensi keseluruhanTiga angka diberikan dalam materi, yaitu 550, 310, dan 175 mm, tanpa menyatakan bagian instrumen mana yang masing-masing digambarkannyaInformasi diperlukan
Berat dan jejak di atas mejaTidak tercantum dalam materiInformasi diperlukan
Pencitraan dan perangkat lunak
Resolusi kamera5 megapiksel pada versi-versi perangkat lunak standar dan 12 megapiksel pada versi dengan spesifikasi lebih tinggiStandar
Pengambilan gambarPengambilan tunggal dan pengambilan batch, dengan gambar disimpan ke sebuah kartu memoriStandar
Kalibrasi gambarSebuah rutinitas kalibrasi yang menyetel skala setiap objektif sekaligus, terhadap sebuah mikrometer meja objek yang dilengkapi dengan sistemnyaStandar
Alat-alat pengukuranJarak, sudut, persegi panjang, elips, poligon, jarak antara garis sejajar, busur tiga titik, dan lingkaran tiga titik, dengan anotasiStandar
Rentang ukur dan akurasiTidak tercantum dalam materi, dan keduanya mengikuti objektif serta kalibrasinya dan bukan perangkat lunaknyaInformasi diperlukan
Keluaran laporanEkspor pengukuran ke sebuah lembar sebar dan ekspor laporan ke format dokumen yang umumStandar
Perluasan kedalaman dan penggabunganTermasuk dalam perangkat lunak, untuk memperluas kedalaman medan dan untuk menyatukan beberapa medan menjadi satu gambarStandar
Pustaka standarSebuah pustaka standar evaluasi organisasi dan nasional, yang diuraikan dalam materi dengan peringatan bahwa nomor-nomor standar yang ditampilkan adalah contoh dan bahwa tahun edisi masing-masing tidak jelas di sumbernyaInformasi diperlukan
Catu daya dan lingkungan
Catu daya100 sampai 240 V, 50 atau 60 Hz, melalui unit pencahayaanStandar
Lingkungan operasiTidak tercantum dalam materiInformasi diperlukan
DisplayTidak disertakan; materi menyatakan bahwa sebuah monitor hanya ditampilkan untuk ilustrasiStandar
Lisensi perangkat lunakDiuraikan sebagai salinan berlisensi asli yang dilengkapi dengan instrumen, dan tidak ada dokumen lisensi yang tercantum dalam materiInformasi diperlukan

Model yang tersedia

Tabel pemilihan
Model Konfigurasi Rentang utama Ketersediaan
4XC / 4XC-W Dudukan terbalik dengan kepala trinokular, okuler medan lebar, dan satu set objektif plan akromatik jarak panjang yang mencakup sebuah objektif minyak 100x Objektif pada 10x, 20x, 40x, dan 100x minyak; versi W dilengkapi dengan sebuah kamera 5 megapiksel serta perangkat lunak analisis Model terbalik kelas masuk, dan satu-satunya dalam seri ini yang punya sebuah objektif imersi minyak
FCM2000 Dudukan terbalik dengan meja objek besar, okuler plano, dan satu set plan akromatik jarak panjang Objektif pada 5x, 10x, 20x, dan 50x; versi W menambahkan sebuah kamera 5 megapiksel serta perangkat lunak analisis Model terbalik serbaguna ketika benda ujinya lebih besar daripada sebuah blok tertanam
FCM3000 Dudukan terbalik yang dipasangi satu set objektif plan profesional jarak kerja panjang Objektif pada 5x, 10x, 20x, dan 50x dengan jarak kerja yang dinyatakan dari 15,5 mm sampai 5,2 mm Versi yang ditentukan ketika celah di atas benda uji menjadi soal
IE300M Dudukan terbalik yang dilengkapi sebagai badan saja, tanpa kamera atau perangkat lunak Objektif pada 5x, 10x, 20x, dan 50x Badan untuk pengguna yang sudah punya sebuah sistem pencitraan, atau yang ingin menambahnya nanti
FX-41MW Dudukan terbalik dengan satu set objektif semi-apokromatik terkoreksi tak hingga berjarak kerja panjang dan sebuah kamera 12 megapiksel Objektif pada 5x, 10x, dan 20x dengan opsi medan gelap dan medan terang; nomor medan okuler 22 mm Spesifikasi optik tertinggi dalam seri terbalik
BH200M Dudukan tegak dengan kepala trinokular untuk benda uji tertanam dan preparat Objektif pada 5x, 10x, 20x, dan 50x; versi W menambahkan sebuah kamera 5 megapiksel serta perangkat lunak analisis Model tegak, untuk benda uji yang dapat ditanam dan disiapkan dengan cara yang biasa
FL7000 / FL7500 / FL8000W / FL8500 Dudukan-dudukan tegak dengan spesifikasi optik yang meningkat, dari satu set plan jarak panjang sampai satu set plan medan gelap dan medan terang terkoreksi tak hingga Objektif dari 5x sampai 60x tergantung modelnya; model-model yang lebih tinggi menambahkan sebuah kamera 12 megapiksel Keluarga tegak, ketika benda ujinya disiapkan sebagai blok tertanam atau sebagai preparat
SZM-RS / SZM-W Varian mikroskop stereo, yang satu dilengkapi perangkat lunak pengukuran penetrasi las dan yang lain perangkat lunak pengukuran gambar secara umum Objektif zoom 0,7x sampai 4,5x pada jarak kerja 100 mm; okuler medan lebar dengan nomor medan 20 mm Dibawa seperti yang dinyatakan materi, karena ini adalah instrumen penyiapan dan pengukuran dan bukan dudukan metalurgi cahaya pantul

Kustomisasi

  • Strukturnya, terbalik atau tegak, yang mengikuti dapat tidaknya benda uji dipotong dan ditanam
  • Set objektifnya, termasuk langkah-langkah perbesaran, kelas koreksi, dan jarak kerja
  • Nomor medan okuler, yang melebarkan medan yang terlihat pada perbesaran tertentu
  • Kameranya, pada 5 atau 12 megapiksel, dan apakah kamera dipasang sama sekali
  • Perangkat lunaknya, karena versi yang dilengkapi dengan sistem itulah yang menyediakan rutinitas pengukuran dan evaluasinya
  • Apakah pencahayaan medan gelap atau medan terang yang dibutuhkan

Sertifikasi dan kepatuhan

Dokumen sertifikasi belum disediakan

Sertifikasi hanya ditampilkan setelah salinan sertifikat dapat disediakan, sehingga bagian ini sengaja kosong dan tidak diisi dengan persetujuan yang diasumsikan. Beri tahu kami persetujuan apa yang dibutuhkan aplikasi Anda, dan kami akan mengonfirmasi apa yang tersedia untuk instrumen ini.

Parameter yang perlu dikonfirmasi

Berikut ini diperlukan untuk spesifikasi lengkap, tetapi tidak tercantum dalam dokumentasi yang diberikan kepada kami. Kami daftar begitu adanya, bukan diperkirakan:

  • Bukaan numerik dan medan pandang dari set-set objektif plan akromatik standar, karena hanya set berjarak kerja panjang yang dicantumkan secara numerik
  • Perbesaran dan medan pandang pada setiap kombinasi objektif dan okuler
  • Bagian instrumen mana yang sesuai dengan masing-masing dari tiga dimensi yang diberikan materi
  • Berat instrumen dan jejaknya di atas meja
  • Lingkungan operasi, termasuk rentang suhu sekitar dan kelembapan
  • Apakah instrumen ini dapat disediakan dengan antarmuka berbahasa Inggris dan dokumentasi berbahasa Inggris
  • Ketentuan lisensi untuk perangkat lunak analisis gambar, dan apakah pustaka standarnya dapat diperbarui setelah pengiriman
  • Tahun edisi standar-standar evaluasi dalam pustaka, yang menurut materi tidak jelas di sumbernya dan ditampilkan hanya sebagai contoh
  • Akurasi alat-alat pengukuran setelah dikalibrasi terhadap sebuah mikrometer meja objek
  • Apakah pencahayaan medan gelap tersedia pada model-model yang tidak mencantumkannya
  • Mikrometer meja objek dan sertifikat kalibrasi yang dilengkapi dengan setiap tingkat sistem
  • Negara asal dan penanda kesesuaian yang berlaku

Pertanyaan yang sering diajukan

Terbalik atau tegak?

Itu mengikuti benda ujinya dan bukan perbesarannya. Sebuah mikroskop tegak membutuhkan benda uji duduk di atas sebuah meja objek di bawah objektif, yang berarti ia harus cukup kecil dan cukup datar untuk disiapkan sebagai blok tertanam atau sebagai preparat. Sebuah mikroskop terbalik menempatkan objektif di bawah meja objek dan benda ujinya di atasnya, sehingga sebuah coran, potongan las, atau komponen permesinan dapat diperiksa tanpa dipotong kecil. Ketika sebuah sampel tidak dapat dikorbankan, susunan terbalik adalah satu-satunya yang bekerja.

Bagaimana saya memilih perbesaran?

Dari ciri terkecil yang harus dinilai, dan bukan dari benda uji secara keseluruhan. Objektif harus menguraikan ciri itu dengan kontras yang cukup untuk memastikannya, dan apa pun di atas itu adalah perbesaran kosong, yang memperbesar gambar tanpa menambah informasi. Angka-angka yang menetapkannya adalah bukaan numerik objektif dan panjang gelombang cahayanya, dan jarak kerja yang menyertai bukaan tinggi itulah yang membatasi seberapa banyak ruang di atas benda uji.

Apa yang ditambahkan kamera?

Sebuah rekaman, dan kemampuan untuk mengukur darinya. Kameranya dipasang pada sebuah port khusus dari kepala trinokular, sehingga pengamatan dan pencitraan berjalan pada waktu yang sama. Pengukuran baru bermakna setelah gambar itu dikalibrasi terhadap sebuah mikrometer meja objek, dan kalibrasinya berlaku untuk setiap objektif, karena skala di dalam gambar berubah mengikuti perbesaran. Tanpa langkah itu perangkat lunak melaporkan jarak dalam piksel, yang merupakan sebuah angka dan bukan sebuah pengukuran.

Apa yang perlu dikonfirmasi sebelum penawaran harga?

Benda ujinya dan apakah ia dapat dipotong, yang menentukan strukturnya; ciri yang harus diuraikan dan karenanya set objektif serta jarak kerjanya; apakah benda ujinya mendekati tembus cahaya dan membutuhkan teknik kontras selain medan terang; apakah pengukuran atau perhitungan harus diambil dari gambar dan terhadap standar evaluasi yang mana; apakah sebuah kamera dan perangkat lunak analisisnya diperlukan, dan pada resolusi berapa; serta berapa banyak pengguna akan berbagi instrumen itu, karena kemudahan penyetelan lebih penting daripada satu pun angka optiknya dalam pemakaian bersama.

Produk terkait

Model lain dalam seri yang sama

Alat uji kekerasan Leeb portabel dalam housing plastik hitam tertutup dengan LCD 128 kali 64 yang membaca 46,6 HRC di atas sebuah baris material dan sebuah penghitung pengukuran, sebuah pad kendali dua belas tombol dengan tombol-tombol berwarna, dan sebuah kabel kuning terpilin ke sebuah perangkat impak terpisah yang berdiri di atas sebuah blok uji silindris di sebelahnya

TH100 (4 model) · Alat uji kekerasan

Alat uji kekerasan Leeb portabel

Alat uji kekerasan Leeb portabel: perangkat impak D, pengukuran 360°, sepuluh material bawaan, membaca HL dan mengonversi ke HB, HRC, HRB, HRA, HV, dan HS.

Model
TH100 / TH110 / TH120 / TH140
Skala kekerasan
HL, HB, HRC, HRB, HRA, HV, dan HS, dikonversi di dalam instrumen
Rentang ukur
170 sampai 960 HLD, 17,9 sampai 69,5 HRC, 19 sampai 683 HB, 80 sampai 1042 HV, 30,6 sampai 102,6 HS
Perangkat impak
Tipe D disertakan sebagai standar; tipe DC, DL, D+15, C, G, dan E tersedia berdasarkan pesanan
Alat ukur ketebalan lapisan berprobe terpisah dalam sebuah housing hitam dengan sebuah kabel masuk dari bagian atas, sebuah display berlampu latar yang menunjukkan 49,4 µm di atas sebuah baris yang menampilkan jenis probe dan mode pengukuran satu titik, serta sebuah panel kendali dua belas tombol di bawahnya, dengan delapan tombol yang dikelompokkan dalam pasangan-pasangan berwarna dan sebuah tombol bundar di tengah

TT220 (3 model) · Alat ukur ketebalan lapisan

Alat ukur ketebalan lapisan prinsip ganda

Alat ukur ketebalan lapisan magnetik dan arus eddy, 0 sampai 1.250 µm pada baja dan aluminium, dengan statistik, alarm batas, dan 500 nilai baca tersimpan.

Model
TT220 / TT230 / TT260 serta seri probe terpisah F dan N
Prinsip pengukuran
Induksi magnetik pada substrat feromagnetik, arus eddy pada substrat bukan besi, dipilih otomatis oleh probe yang terpasang
Rentang ukur
0 sampai 1.250 µm dengan probe F1 atau N1 standar; 0 sampai 400 µm dengan F400; 0 sampai 5.000 µm dengan F5; 0 sampai 10.000 µm dengan F10; 0 sampai 2.000 µm pada TT220 yang menyatu
Resolusi
0,1 µm di bawah 100 µm; 10 µm pada probe berrentang panjang F10; 1 µm di atas 100 µm pada model yang menyatu
Sebuah alat uji kekasaran permukaan portabel berbadan abu-abu dan hitam yang berbaring miring, dengan sebuah display lampu latar kuning yang membaca 1.600 um pada sebuah garis Ra dan sebuah garis panjang sampling, serta enam tombol kendali dengan tombol START merah, tombol-tombol panah, sebuah tombol ESC dan sebuah tombol daya

GH880 (2 model) · Alat uji kekasaran permukaan

Alat Uji Kekasaran Permukaan Portabel

Alat uji kekasaran permukaan portabel yang membaca Ra dan Rz, hingga 26 parameter, delapan edisi standar bawaan, dan empat sensor yang dapat ditukar.

Model
GH880 / TR100
Prinsip
Sebuah pickup induktif dengan jarum peraba intan dan sebuah sepatu pemandu
Rentang ukur
Ra dan Rq dari 0,005 sampai 32 µm; Rz, Ry, Rt, Rp dan Rm dari 0,02 sampai 320 µm; rentang display ±160 µm
Resolusi
0,001 µm pada GH880; 0,01 µm pada TR100

Minta penawaran harga untuk 4XC

Kirim konfigurasi yang Anda butuhkan dan kami akan mengonfirmasi ketersediaan, lead time, dan ketentuan. Pemesanan minimum adalah 1 unit.

Permintaan penawaran harga

Minta penawaran harga - 4XC

Kirim detail teknis dan kami akan mengonfirmasi ketersediaan, lead time, dan ketentuan. Barang stok dikirim dalam 48 jam; spesifikasi kustom umumnya membutuhkan 2-10 hari. Pemesanan minimum adalah 1 unit.

Semakin banyak informasi yang dapat Anda berikan, semakin sedikit tanya jawab yang diperlukan sebelum kami dapat memberikan penawaran harga.
Tidak ada berkas dipilih
Datasheet, gambar teknik, BOM, atau foto. Satu berkas, hingga 10 MB (PDF, Office, gambar, atau ZIP).

Dengan mengirim formulir ini, Anda menyetujui bahwa kami dapat menghubungi Anda mengenai permintaan ini. Kami tidak menjual atau membagikan data permintaan. Lihat kebijakan privasi.

Barang stok dikirim dalam 48 jam setelah konfirmasi pesanan. Spesifikasi kustom dibuat sesuai pesanan dan biasanya dikirim dalam 2-10 hari. Waktu transit kemudian tergantung pada metode pengiriman dan tujuan.

Minta penawaran harga WhatsApp