Urządzenia do badań przemysłowych · Mierniki grubości powłok
Grubościomierz powłok z indukcją magnetyczną i prądami wirowymi, 0-1250 µm na stali i aluminium, z automatyczną identyfikacją sondy i 500 odczytami.
TT220 (3 modele) ·
Grubościomierz powłok istnieje dlatego, że alternatywą jest nóż, mikroskop i zniszczona część. Farba, powłoka galwaniczna, powłoka proszkowa i anodowanie są wszystkie określone grubością i wszystkie muszą być kontrolowane na dostarczonej części, a nie na próbce - co oznacza, że pomiar musi pozostawić część nienaruszoną.
Przyrząd robi to, mierząc warstwę od góry, a tym, co czyni go więcej niż narzędziem jednoprzeznaczeniowym, jest to, że ta sama obudowa zrobi to na stali i na aluminium, pod warunkiem, że podłoże jest rozpoznane jako to, czym jest.
Sonda i obudowa. Sonda nosi cewkę i mierzy właściwość pola między sobą a podłożem; obudowa dostarcza wyświetlacz, kalibrację i statystykę. Razem realizują dwie różne metody, a używana sonda decyduje o tym, która jest stosowana.
Zakres w tym materiale jest szeroki: obudowa dzielona z sondą na kablu, ten sam układ w metalowej obudowie, wersja przełączająca między stalą a aluminium automatycznie, wersja długozakresowa do grubych powłok i kompaktowy przyrząd zintegrowany do pracy rutynowej na płaskich częściach. Wszystkie dzielą rodzinę sond i zasadę pomiaru, a różnią się tym, na co są skierowane.
Metoda indukcji magnetycznej wzbudza cewkę i mierzy reluktancję drogi między sondą a podłożem ferromagnetycznym. Powłoka jest przerwą w tej drodze, więc odczyt jest zasadniczo odległością przez warstwę. Wymaga, aby podłoże było rzeczywiście ferromagnetyczne, a powłoka rzeczywiście niemagnetyczna - dlatego powłoka niklowa jest trudnym przypadkiem, ponieważ warstwa niklu może działać jako część podłoża.
Metoda prądów wirowych wzbudza pole przemienne w przewodzącym podłożu i mierzy zmianę impedancji spowodowaną prądami wirowymi płynącymi w nim. Ponieważ odstęp wpływa na to pole, ta sama cewka staje się odczytem grubości, gdy podłoże jest znane. Jest to metoda dla aluminium, miedzi, mosiądzu i stali nierdzewnej austenitycznej, gdzie miernik magnetyczny nie odczytuje niczego użytecznego.
Przyrząd z obiema metodami identyfikuje sondę automatycznie i stosuje odpowiadającą jej metodę, co eliminuje najczęstszy sposób na uzyskanie błędnej odpowiedzi: użycie właściwego przyrządu na niewłaściwym podłożu.
Obie metody są względne i kalibrowane, a nie bezwzględne. Zerowanie na surowym podłożu usuwa przesunięcie - błąd wynikający z tego, że sonda nie odczytuje dokładnie zera na samym podłożu. Dodanie folii o znanej grubości i kalibracja względem niej koryguje również wzmocnienie.
To jest cała różnica między dwoma wartościami błędu materiału. Kalibracja jednopunktowa jest podana jako ±(3 % odczytu + 1 µm), a dwupunktowa jako ±(1 do 3) % odczytu ±1 µm. Praktycznie, kalibracja jednopunktowa jest lepsza w pobliżu grubości, przy której wyzerowano, i oddala się od niej, więc praca w pobliżu końców zakresu sondy jest wykonywana dwoma punktami.
Pole rozchodzi się na boki, jak i w dół, i wszystko, co zmienia ilość materiału otaczającego punkt pomiaru, zmienia nieco odczyt. Krzywizna wygina pole, krawędź je odcina, a podłoże cieńsze, niż metoda oczekuje, przestaje zachowywać się jak ciało nieskończone. Materiał podaje wartość każdego z tych czynników dla każdej sondy: minimalną powierzchnię 7 mm średnicy dla F1 i 5 mm dla N1, minimalny promień 1,5 mm wypukły dla F1 i 3 mm dla N1 oraz minimalną grubość podłoża 0,5 mm na stali i 0,3 mm na aluminium.
Żaden z nich nie ogłasza się, gdy jest naruszony. Wartość po prostu dryfuje i dryfuje w kierunku, który sprawia, że cienka powłoka wygląda na dopuszczalną. Dlatego warunki są sprawdzane wobec części przed wyborem sondy, a nie po tym, jak odczyt wygląda źle.
Wartości materiału są sprzeczne w trzech miejscach i wszystkie trzy są przeniesione, a nie rozstrzygnięte. Minimalna grubość podłoża różni się między sondami dzielonymi a modelem zintegrowanym. Wymiary obudowy są podane na cztery sposoby w całym zakresie. A błąd wskazania jest podany z trzema różnymi podstawami, co okazuje się różnicą procedury kalibracji, a nie sprzecznością - ale dopiero po dołączeniu procedury, do której każda wartość należy.
Istnieje również ograniczenie, które materiał implikuje, a nie stwierdza. Wymienia typy powłok - farba, powłoka galwaniczna, proszek, anodowanie, folie - bez mapowania ich na metodę, i podczas gdy większość jest prosta, te, które nie są, to dokładnie te, które zawodzą: warstwa magnetyczna na podłożu ferromagnetycznym lub warstwa przewodząca na podłożu przewodzącym. Tam, gdzie powłoka nie jest wyraźnie magnetyczna ani wyraźnie niemagnetyczna, powiedzenie tego w zapytaniu jest tym, co ją rozstrzyga.
Rzeczy, które ustalają odpowiedź, to: materiał i gatunek podłoża, jego grubość oraz najmniejszy promień i najwęższa powierzchnia; materiał powłoki i sposób jej nakładania oraz czy któraś warstwa jest magnetyczna; spodziewana grubość z pasmem tolerancji; czy części stalowe i aluminiowe muszą być inspekcjonowane, co decyduje między przyrządem jednometodowym a takim, który niesie obie; ile odczytów na część wymagają kryteria odbioru; oraz czy odczyty muszą być przechowywane, eksportowane lub drukowane. Tam, gdzie część jest mała lub zakrzywiona, geometria decyduje o sondzie, więc zarys części jest wart więcej niż opis słowny. Ilość, port docelowy i wymagany termin dostawy uzupełniają zapytanie.
Każda z poniższych wartości pochodzi z dokumentacji źródłowej. Jeśli parametr nie został podany w dostępnych materiałach, oznacza się go jako wymagane informacje, a nie szacuje.
| Zasada | Indukcja magnetyczna dla podłoży ferromagnetycznych ze stali i żelaza; prądy wirowe dla podłoży nieżelaznych z aluminium, miedzi, mosiądzu i stali nierdzewnej austenitycznejNorma |
|---|---|
| Zakres pomiarowy | 0 do 1250 µm standardowo; 0 do 400 µm z F400; 0 do 5000 µm z F5; 0 do 10 000 µm z F10; 0 do 1500 µm w wersji dzielonej żelaznej i nieżelaznej; 0 do 2000 µm w zintegrowanym TT220Norma |
| Rozdzielczość | 0,1 µm na sondach krótkozakresowych; 10 µm na F5 i F10; model zintegrowany podaje 0,1 µm od 0 do 99,9 µm i 1 µm powyżej 100 µmNorma |
| Błąd wskazania | ±(1 do 3) % odczytu ±1 µm przy kalibracji dwupunktowej; ±(3 % odczytu + 1 µm) przy kalibracji jednopunktowej; ±(3 % odczytu + 1,5 µm) dla N1 i ±(3 % odczytu + 10 µm) dla sond długozakresowychNorma |
| Jednostki | µm i mil w całym zakresie, z mm dodatkowo w modelu zintegrowanymNorma |
| Kalibracja | Zerowanie na surowym podłożu, następnie kalibracja jednopunktowa lub dwupunktowa względem dostarczonych folii referencyjnychNorma |
| Minimalna grubość podłoża | 0,5 mm dla F1, 0,2 mm dla F400, 2 mm dla F5 i F10, 0,3 mm dla N1; model zintegrowany podaje 0,2 mm na stali i 0,03 mm na podłożu nieżelaznymNorma |
|---|---|
| Minimalna powierzchnia | 7 mm średnicy dla F1, 3 mm dla F400, 40 mm dla sond długozakresowych, 5 mm dla N1 i 15 mm w modelu zintegrowanymNorma |
| Minimalny promień krzywizny | Podany dla każdej sondy: powyżej 1 mm wypukły dla F400, 1,5 mm dla F1, płaski dla F1 pod kątem prostym, 10 mm dla F10 i 3 mm dla N1Norma |
| Typy powłok | Farba i lakier, powłoki cynkowe i chromowe, powłoki miedziane, powłoki z tworzywa, powłoki proszkowe, folie, warstwy anodowane i utlenione, warstwy antykorozyjne i warstwy elektroforetyczneNorma |
| Kombinacje podłoży | Powłoki nieprzewodzące na podłożu ferromagnetycznym metodą magnetyczną; powłoki nieprzewodzące na podłożu nieżelaznym oraz warstwy metali nieżelaznych na podłożu nieżelaznym metodą prądów wirowychNorma |
| Tryb pomiaru | Pomiar jednopunktowy i ciągłyNorma |
| Przechowywanie | 500 odczytów w pięciu grupach pamięci po 100 każda; materiał odnotowuje, że statystyki nie mogą być zmienione, gdy grupa jest pełna, choć pomiar może być kontynuowanyNorma |
|---|---|
| Statystyka | Średnia, maksimum, minimum, liczba i odchylenie standardowe, pokazywane dla grupy na jednym ekranieNorma |
| Alarm graniczny | Ustawialne granice górna i dolna z wskazaniem dźwiękowym; materiał odnotowuje, że dwie granice nie mogą być bliżej niż 3 % swoich wartościNorma |
| Łącze danych | Oprogramowanie komputera nadrzędnego w niektórych modelach, z interfejsem 485 w części z nichWymagane informacje |
| Wyświetlacz i zarządzanie energią | Wartość pomiaru, jednostka, stan baterii, typ sondy, liczba zapisów, tryb pomiaru i granice; funkcja uśpienia i automatyczne wyłączenieNorma |
| Zasilanie | Dwa ogniwa AA w modelach dzielonych i obudowie; dwa ogniwa AAA w modelu zintegrowanymNorma |
| Wymiary i masa | 115 x 67 x 31 mm i około 340 g w modelach dzielonych; 151 x 76 x 33 mm w wersji dzielonej żelaznej i nieżelaznej; 103 x 62 x 27 mm i około 60 g w modelu zintegrowanym; 125 x 72 x 26 mm i około 400 g w modelu z metalową obudowąNorma |
| Stopień ochrony obudowy | Nie podano w materialeWymagane informacje |
| Temperatura pracy | Nie podano w materialeWymagane informacje |
| Zawartość opakowania | Przyrząd, dwa ogniwa, jedna sonda powłokowa F1 lub N1, podłoże, pięć folii referencyjnych powłok, kabel USB, dokumentacja i pokrowiecNorma |
|---|---|
| Podłoże | Jedno podłoże dostarczane, magnetyczne lub prądów wirowych zależnie od sondy, używane do zerowaniaNorma |
| Folie referencyjne | Pięć folii powłokowych dostarczanych do kalibracji jednopunktowej i dwupunktowejNorma |
| Sonda | Jedna sonda dostarczana standardowo; materiał nie podaje długości kablaWymagane informacje |
| Model | Konfiguracja | Ważne zakresy | Dostępność |
|---|---|---|---|
| TT230 | Obudowa dzielona z sondą na kablu, w obudowie z tworzywa, 115 x 67 x 31 mm, około 340 g | 0 do 1250 µm z F1 lub N1; rozdzielczość 0,1 µm; minimalne podłoże 0,5 mm na stali; 500 odczytów | Forma ogólna, wybierana gdy sonda musi sięgnąć powierzchni, na której obudowa nie może leżeć płasko |
| TT260 | Ten sam układ w metalowej obudowie, 125 x 72 x 26 mm, około 400 g | 0 do 1250 µm z F1; rozdzielczość 0,1 µm; minimalne podłoże 0,5 mm; 500 odczytów | Ten sam przyrząd w obudowie do cięższego traktowania |
| Dzielony żelazny i nieżelazny | Sonda dzielona 151 x 76 x 33 mm, przełączająca między indukcją magnetyczną a prądami wirowymi automatycznie | 0 do 1500 µm; ±(1 do 3) % odczytu ±1 µm; rozdzielczość 0,1 µm; minimalne podłoże 0,5 mm; minimalna powierzchnia 7 mm | Forma do inspekcji obejmującej części stalowe i aluminiowe w tej samej zmianie, z wyborem języka i oprogramowaniem nadrzędnym |
| Dzielony długozakresowy | Sonda dzielona z założoną sondą F5 lub F10 | 0 do 5000 µm z F5 i 0 do 10 000 µm z F10; rozdzielczość 10 µm; minimalne podłoże 2 mm; minimalna powierzchnia 40 mm | Forma do grubych powłok, gdzie sonda krótkozakresowa wyczerpałaby zakres |
| TT220 | Przyrząd zintegrowany z sondą wbudowaną w obudowę, 103 x 62 x 27 mm, około 60 g, dwa ogniwa AAA | 0 do 2000 µm; ±(2 % odczytu + 1 µm); 0,1 µm poniżej 100 µm i 1 µm powyżej; minimalne podłoże 0,03 mm na podłożu nieżelaznym; minimalna powierzchnia 15 mm | Forma kompaktowa do rutynowych kontroli większych płaskich części i jedyny model w zakresie z połączeniem USB i Bluetooth do aplikacji mobilnej |
Certyfikaty publikujemy dopiero wtedy, gdy możemy przedstawić kopię certyfikatu, dlatego ta sekcja jest celowo pusta, a nie wypełniona domniemanymi zatwierdzeniami. Napisz, jakie zatwierdzenia wymaga Twoje zastosowanie, a potwierdzimy, co jest dostępne dla tego przyrządu.
Poniższe dane są wymagane do pełnej specyfikacji, ale nie podano ich w dostarczonej dokumentacji. Są wymienione, a nie szacowane:
Musi być niemagnetyczna, aby metoda indukcji magnetycznej odczytała ją jako powłokę, a nie jako część podłoża. Dlatego powłoka niklowa jest trudnym przypadkiem: jest przewodząca i, zależnie od warstwy, na tyle magnetyczna, że zakłóca odczyt, a materiał odnotowuje, że warstwy niklu wymagają osobnego rozpatrzenia. Dla metody prądów wirowych wymaganie jest odwrotne - podłoże musi być przewodzące, a powłoka nieprzewodząca - i jest to metoda dla aluminium, miedzi, mosiądzu i stali nierdzewnej austenitycznej, gdzie miernik magnetyczny nie odczytuje niczego użytecznego.
Ponieważ korygują różne rzeczy. Zerowanie na surowym podłożu usuwa przesunięcie, czyli błąd wynikający z tego, że sonda nie odczytuje dokładnie zera na samym podłożu. Kalibracja dwupunktowa dodaje folię o znanej grubości i koryguje również wzmocnienie, dlatego materiał podaje ±(1 do 3) % odczytu ±1 µm dla kalibracji dwupunktowej wobec ±(3 % odczytu + 1 µm) dla jednopunktowej. Praktyczna konsekwencja jest taka, że kalibracja jednopunktowa jest wystarczająca w pobliżu grubości, przy której wyzerowano, i oddala się od niej, więc praca na krańcach zakresu sondy jest wykonywana dwoma punktami.
Ponieważ pole rozchodzi się na boki, jak i w dół, i w pobliżu krawędzi lub na małej części pole nie ma wystarczająco dużo materiału wokół, by zachowywać się tak, jakby część była nieskończona. Wartość nie skacze, tylko dryfuje, co jest gorsze. Materiał podaje minimalną powierzchnię 7 mm średnicy dla F1 i 5 mm dla N1, minimalny promień 1,5 mm wypukły dla F1 i 3 mm dla N1 oraz minimalną grubość podłoża 0,5 mm na stali i 0,3 mm na aluminium. Tam, gdzie część mieści się w tych wartościach, odpowiedzią jest sonda z mniejszą powierzchnią styku, a nie korekta stosowana po fakcie.
Materiał i gatunek podłoża, jego grubość oraz najmniejszy promień i najwęższa powierzchnia, ponieważ to decyduje o sondzie. Materiał powłoki i sposób jej nakładania oraz czy któraś warstwa jest magnetyczna - nikiel jest typowym przypadkiem. Spodziewana grubość powłoki z pasmem tolerancji. Czy części stalowe i aluminiowe muszą być inspekcjonowane, co decyduje między przyrządem jednometodowym a takim, który niesie obie. Czy odczyty muszą być przechowywane, eksportowane lub drukowane i ile odczytów na część wymagają kryteria odbioru. I czy odwrotna strona części jest dostępna, ponieważ warunek grubości podłoża dotyczy materiału pod sondą.
Podobne produkty
GH880 (2 modele) · Mierniki chropowatości
Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Ra i Rz, 26 parametrów, osiem norm i cztery wymienne sondy do otworów, rowków i powierzchni zakrzywionych.
TH100 (4 modele) · Twardościomierze
Przenośny twardomierz Leeba z przeliczaniem HL na HB, HRC, HV i HS, z elementem uderzeniowym typu D, pomiarem 360° i dziesięcioma wbudowanymi materiałami.
Prześlij potrzebną konfigurację, a potwierdzimy dostępność, termin realizacji i warunki. Minimalna ilość zamówienia to 1 szt.
Zapytanie ofertowe
Prześlij dane techniczne, a potwierdzimy dostępność, termin realizacji i warunki. Pozycje z magazynu wysyłamy w ciągu 48 godzin; specyfikacje dostosowane zwykle wymagają 2-10 dni. Minimalna ilość zamówienia to 1 szt.